21 lipca 2016

Bliżej rzeczywistości: Co naprawdę widać, gdy patrzymy na próbkę?

Bez szczegółowej wiedzy o właściwościach używanych materiałów dzisiejsza technika nie mogłaby ani funkcjonować, ani się rozwijać. Nowy opis rozpraszania elektronów w powierzchniowych warstwach próbek, zaproponowany przez Instytut Chemii Fizycznej PAN w Warszawie, znacząco przyspiesza analizy materiałowe i pozwala lepiej zrozumieć, co naprawdę widać w badanej próbce. Na zdjęciu prof. dr hab. Aleksander Jabłoński przy aparaturze do spektroskopii powierzchni.

http://ichf.edu.pl/press/2016/06/IChF160629a_PL.pdf